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2017-09-28
CIM 2017
In den Tagen vom 19. bis zum 21. September fand in Paris der 18. Internationale Metrologische Kongress.Der Kongress war eine Begleitveranstaltung zu einem anderen in Frankreich sehr bedeutenden Ereignis: der Messe ENOVA PARIS, an der Hersteller und Vertreiber von elektronischen Geräten, metrologischer Ausstattung, Software und anderen modernen Lösungen im Bereich Optik und Photonik teilnahmen. 
 
Die Firma RADWAG war auf der Messe als Aussteller mit dabei. Es wurden der automatische Komparator UMA 5 mit einem 36 Position Magazin und der Suszeptometer SM-MYA-5 präsentiert. Der Komparator UMA 5 wurde zur Teilnahme am Wettbewerb für das innovativste Gerät auf der ENOVA PARIS Messe qualifiziert. 
 
Unser Stand hat großes Interesse der Teilnehmer des Kongresses und der Besucher der Messe geweckt. 
 
Sehr beliebt war die Postersession mit unserer wissenschaftlichen Arbeit zum Thema „Optimierung des Prozesses der Kalibrierung von Prüfgewichten und Gewichten mit Hilfe von automatischen Massekomparatoren”. 
 
Die Firma RADWAG bedankt sich bei allen Besuchern unseres Standes für die gewidmete Zeit und das Interesse. Auf Wiedersehen in 2 Jahren auf den nächsten 19. Internationalen Metrologischen Kongress.

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